확산판  외각에 고휘도 LED를 사용하여 측면에서 하부로 빛을 조사하는 방식이며,

빛이 고르고 균일하게 되어 반사되는 물체에 탁월한 효과를 얻을 수 있습니다.

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Wafer
외관
검사  ▶ Connector 피치
검사   ▶ 반도체 마킹
검사   ▶ 문자 인식 등에 적합